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NS系列接觸式表面形貌臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。單拱龍門式設計，結構穩(wěn)定性好，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響，提高了測量精度。

CEM3000系列臺式掃描電子顯微鏡儀器采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節(jié)省了時間成本，特別適用于需要快速獲取結果的應用場景，如工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制、快速篩選樣品等。

CEM3000自主化SEM掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節(jié)省了時間成本，特別適用于需要快速獲取結果的應用場景.

VT6000系列納米級共聚焦成像顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎，結合高穩(wěn)定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，保證儀器的高測量精度。主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。

SuperViewW系列高精度光學輪廓白光干涉儀以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

不同于立式電鏡，中圖SEM掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結果。