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NS系列探針式接觸臺階高度儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，能夠廣泛應用于半導體、太陽能光伏、光學加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位，其對表面微觀形貌參數(shù)的準確表征，對于相關材料的評定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

中圖儀器SEM掃描電鏡品牌采用鎢燈絲電子槍，制作工藝相對簡單，材料成本也較低，使得鎢燈絲電子槍的整體成本不高，從而降低了臺式掃描電鏡的設備采購成本。鎢燈絲電子槍可以在相對較低的真空度下工作，通常只需要兩級真空泵系統(tǒng)獲得 0.001Pa 左右的真空度即可滿足要求，而不需要像場發(fā)射電子槍那樣的超高真空環(huán)境，這不僅降低了真空系統(tǒng)的復雜度和成本，還縮短了抽真空的時間，提高了工作效率。

中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。

CEM3000系列國內(nèi)高分辨力掃描電鏡運用了快速抽放氣設計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統(tǒng)，以便精準調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度，滿足不同樣品的觀測需求。此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。

CEM3000系列國產(chǎn)掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

不同于立式電鏡，中圖儀器鎢燈絲掃描電鏡CEM3000系列無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺式電鏡也可以進入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現(xiàn)出色的性能。